NEO Semiconductor，一家专注于先进 AI 与存储技术的领先创新企业，今日宣布其 3D X-DRAM 技术的概念验证（POC）已取得圆满成功，这标志着面向 AI 及数据中心系统的新一代高密度存储解决方案迈出了关键里程碑。
该公司还宣布获得一项新的战略投资，由宏碁创始人、前董事长兼首席执行官、并曾担任台积电董事会董事逾 20 年的 Stan Shih 领投。作为全球备受尊敬的技术先驱和企业家，Shih 先生的参与充分体现了对 NEO 技术与愿景的坚定信心，并将助力公司下一阶段的发展。
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原文链接：NEO Semiconductor Demonstrates 3D X-DRAM Proof-of-Concept
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